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| | | 5、测试flash,地址看错了导致读取结果看错了,以为有问题,实际测试没问题。 |
| | | ##2024年6月5日: |
| | | 1、测试脉冲检测(暂时跳线到PC5-HWID1),发现初始检测的状态置位有问题,已修改。 |
| | | 2、增加了日志控制参数的EEP空间定义和外部FLASH存储空间定义 |
| | | 2、增加了日志控制参数的EEP空间定义和外部FLASH存储空间定义 |
| | | ##2024年6月6日: |
| | | 1、增加了日志控制的参数初始化存储与读取; |
| | | 2、增加了几个控制字的参数初始化存储与读取; |
| | | 3、增加了日志地址宏定义; |
| | | 4、增加了历史记录的存储; |
| | | ##2024年6月7日: |
| | | 1、增加报警记录的存储函数; |
| | | 2、增加阀控事件记录的存储函数; |
| | | 3、修改阀门命令函数,增加阀控来源,阀控来源增加强开。 |
| | | 4、准备添加历史数据记录存储功能的测试函数。 |
| | | ##2024年6月11日: |
| | | 1、EEPROM(SPI3)操作测试,发现第一次操作有问题是电源和CS引脚初始化有影响,初始化为电源有效、两个CS拉高,之后再正常操作EEPROM就正常。 |
| | | 2、EEPROM操作完把电源和两个CS都拉低,但是发现有0.2V左右电压, 将SPI功能和引脚都关闭,电压接近0。 |
| | | 3、增加恢复出厂时间记录函数、设置时间事件记录; |
| | | 4、上位机增加时间的读取设置。 |
| | | ##2024年6月12日: |
| | | 1. 增加IAP功能,程序首地址指向0x19000; |
| | | 2. 升级过程中涉及到片外FLASH操作的都加上了使能控制。 |
| | | 3. 测试上位机差分升级发现有点问题。 |
| | | 4. 借电关阀增加条件,要求锂电正常,即锂电不存在低电、欠电、移除。 |
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| | | ##2024年6月14日: |
| | | 1. 测试升级成功,之前存在升级问题:上位机放在非C盘时,无法转换hex文件为bin文件,导致增量文件无法得到并压缩,上位机扔继续下发之前已经存在的压缩bin文件,导致设备端还原新程序是有问题的。解决方案:上位机修改,不用指定C盘,其他盘也可以。 |